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　　手持式的是磁感應(yīng)原理，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

 

　　臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱(chēng)為二次熒光，,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。

 

　　尼克斯膜厚儀應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：

　　1、快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要10S～60S，樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理；

　　2、無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)；

　　3、準(zhǔn)確：對(duì)樣品可以分析；

　　4、直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快；

　　5、環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。

 

　　熒光X射線尼克斯膜厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。

 

　　尼克斯膜厚儀性能特點(diǎn)：

　　良好的射線屏蔽作用。

　　高分辨率探頭使分析結(jié)果。

　　測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

　　小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求。

　　采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度。

　　定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。

　　滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求。

　　高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm。

　　鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)。